LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
簡(jiǎn)要描述：
LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)[特點(diǎn)]-LE-373是一種可測(cè)量非磁性膜厚度的膜厚計(jì)，例如磁性金屬上的鍍層（不包括電解鎳鍍層）和涂層-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，并且是一種應(yīng)用。 （測(cè)量線）具備存儲(chǔ)功能，測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，膜厚管理的上下限設(shè)定，簡(jiǎn)單的統(tǒng)計(jì)處理，數(shù)據(jù)輸出等16種功能
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-20
打印當(dāng)前頁(yè)LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
[特點(diǎn)]
-LE-373是一種可測(cè)量非磁性膜厚度的膜厚計(jì)，例如磁性金屬上的鍍層（不包括電解鎳鍍層）和涂層
-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，并且是一種應(yīng)用。 （測(cè)量線）具備存儲(chǔ)功能，測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，膜厚管理的上下限設(shè)定，簡(jiǎn)單的統(tǒng)計(jì)處理，數(shù)據(jù)輸出等16種功能
LE-373電磁膜測(cè)厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
規(guī)格/尺寸信息
| 膜厚儀 | 測(cè)量范圍（μm） | 0-2500 | |
|---|---|---|---|
| 分辨率（μm） | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm | 方法 | 電磁感應(yīng)式 |
| 測(cè)量目標(biāo) | 磁性材料上的非磁性膜 | 準(zhǔn)確性 | 小于50μm：±1μm，50μm或更大且小于1000μm：±2％，1000μm或更大：±3％ |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM E 376 / JIS H0401 / ISO 1460 / ISO 2064 / ISO 2178 / ISO 2808 / BS 3900-C5ASTM B 499 / JIS K5600-1-7 / ASTM D 7091-5 / JIS H8401 / JIS H8501 / JIS H8641 / ISO 19840 | 顯示方式 | 數(shù)字（帶背光的LCD，小顯示數(shù)字為0.1μm） |
| 外部輸出 | 可以輸出到個(gè)人計(jì)算機(jī)（USB或RS-232C）或打印機(jī)（RS-232C） | 電源供應(yīng) | 電池1.5V（AA堿性）x 4 |
| 能量消耗 | 80mW（背光關(guān)閉時(shí)） | 工作溫度極限 | 0-40℃ |
產(chǎn)品功能/規(guī)格
產(chǎn)品基本規(guī)格/功能
●緊湊輕巧的機(jī)身
尺寸為寬75mm，長(zhǎng)145mm，厚31mm，質(zhì)量340g。由于尺寸是可以單手獲得的，因此即使在測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)也可以輕松使用。
●具備多種功能
具備正常膜厚控制所需的所有功能。
應(yīng)用程序選擇，背景校正，數(shù)據(jù)刪除，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，上/下限設(shè)置，統(tǒng)計(jì)計(jì)算（測(cè)量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值），顯示選擇，日期/時(shí)間，自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間，背光亮度，背光時(shí)間，單位，數(shù)據(jù)輸出，自動(dòng)批次分類，測(cè)量方法，維護(hù)模式等。可以根據(jù)需要設(shè)置16種功能。
●完整選項(xiàng)
可選的測(cè)量架LW-990使得易于測(cè)量難以測(cè)量的彎曲表面（例如管道），甚至在測(cè)量普通平面時(shí)，也可以將重復(fù)誤差和人為誤差降至低。
另外，通過(guò)使用數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger LDL-03”和“ McWAVE series”，可以以MS Excel格式保存數(shù)據(jù)，編輯測(cè)量數(shù)據(jù)并創(chuàng)建各種管理圖。 ..
（McWAVE系列是CEC的商標(biāo)，MS Excel是Microsoft的商標(biāo)。）
選擇架“ LW-990”
●測(cè)量原理
當(dāng)電磁吸引型（LE-373 Fe探頭）
交流電磁鐵靠近鐵（磁性金屬）時(shí)，穿過(guò)線圈的磁通量會(huì)根據(jù)接近距離而變化，因此施加在線圈兩端的電壓也會(huì)發(fā)生變化。
電磁膜厚度計(jì)從電流值讀取該電壓變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚度，該膜厚度用于測(cè)量磁性金屬上的非磁性膜。
●規(guī)格
| 測(cè)量方式 | 電磁感應(yīng)式 |
|---|---|
| 測(cè)量目標(biāo) | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
| 探測(cè) | 單點(diǎn)接觸恒壓型（LEP-J） |
| 測(cè)量范圍 | 0-2,500μm或99.0密耳 |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | JIS K5600-1-7，JIS H0401，JIS H8401， JIS H8501，JIS H8641 / ISO 1460， ISO 2064，ISO 2178，ISO 2808， ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499， ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 應(yīng)用程序 部署內(nèi)存 | 100 |
| 測(cè)量精度 | 小于50μm：±1μm，50μm或更大且小于1,000μm：±2％，1,000μm或更大：±3％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm |
| 資料儲(chǔ)存 | 39,000點(diǎn) |
| 附加功能 | 應(yīng)用程序選擇，背景校正，數(shù)據(jù)刪除，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，上下限設(shè)置，統(tǒng)計(jì)計(jì)算（測(cè)量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值），顯示選擇，日期/時(shí)間， 自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間，背光亮度，背光時(shí)間，單位，數(shù)據(jù)輸出，自動(dòng)批次分類，測(cè)量方法，維護(hù)方式 |
| 顯示方式 | 數(shù)字（LCD 128 x 64點(diǎn)帶背光，小顯示數(shù)字為0.1μm） |
| 外部輸出 | 個(gè)人計(jì)算機(jī)（USB或RS-232C） |
| 電源供應(yīng) | 電池1.5V（AA堿性）x 4 |
| 能量消耗 | 80mW（背光關(guān)閉時(shí)） |
| 電池壽命 | 100小時(shí)（背光關(guān)閉時(shí)連續(xù)使用） |
| 工作溫度極限 | 0至+ 40°C |
| 尺寸/質(zhì)量 | 75（W）x 145（D）x 31（H）毫米，0.34千克 |
| 配件 | 標(biāo)準(zhǔn)板（10μm，50μm，100μm，500μm，1,000μm，1,500μm，近似值，每組1個(gè)，總共6張）， 標(biāo)準(zhǔn)板盒，AA堿性電池1.5 V，探頭適配器，手提箱，鐵底座 |
| 選項(xiàng) | 標(biāo)準(zhǔn)板（配件以外的厚度），測(cè)量臺(tái)“ LW-990”，數(shù)據(jù)記錄器軟件“ LDL-03”，個(gè)人計(jì)算機(jī)電纜，RS-232C-USB電纜， 數(shù)據(jù)管理軟件“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Std。”，“ McWAVE Pro” “。”“ MultiProp” |