LE-373電磁膜測厚儀日本進口凱特科學
簡要描述：
LE-373電磁膜測厚儀日本進口凱特科學[特點]-LE-373是一種可測量非磁性膜厚度的膜厚計，例如磁性金屬上的鍍層（不包括電解鎳鍍層）和涂層-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接嬎銠C，并且是一種應用。 （測量線）具備存儲功能，測量數(shù)據(jù)存儲，膜厚管理的上下限設定，簡單的統(tǒng)計處理，數(shù)據(jù)輸出等16種功能
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品時間：2024-05-21
打印當前頁LE-373電磁膜測厚儀日本進口凱特科學
[特點]
-LE-373是一種可測量非磁性膜厚度的膜厚計，例如磁性金屬上的鍍層（不包括電解鎳鍍層）和涂層
-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接嬎銠C，并且是一種應用。 （測量線）具備存儲功能，測量數(shù)據(jù)存儲，膜厚管理的上下限設定，簡單的統(tǒng)計處理，數(shù)據(jù)輸出等16種功能
LE-373電磁膜測厚儀日本進口凱特科學
規(guī)格/尺寸信息
| 膜厚儀 | 測量范圍（μm） | 0-2500 | |
|---|---|---|---|
| 分辨率（μm） | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm | 方法 | 電磁感應式 |
| 測量目標 | 磁性材料上的非磁性膜 | 準確性 | 小于50μm：±1μm，50μm或更大且小于1000μm：±2％，1000μm或更大：±3％ |
| 符合標準 | ASTM E 376 / JIS H0401 / ISO 1460 / ISO 2064 / ISO 2178 / ISO 2808 / BS 3900-C5ASTM B 499 / JIS K5600-1-7 / ASTM D 7091-5 / JIS H8401 / JIS H8501 / JIS H8641 / ISO 19840 | 顯示方式 | 數(shù)字（帶背光的LCD，小顯示數(shù)字為0.1μm） |
| 外部輸出 | 可以輸出到個人計算機（USB或RS-232C）或打印機（RS-232C） | 電源供應 | 電池1.5V（AA堿性）x 4 |
| 能量消耗 | 80mW（背光關閉時） | 工作溫度極限 | 0-40℃ |
產(chǎn)品功能/規(guī)格
產(chǎn)品基本規(guī)格/功能
●緊湊輕巧的機身
尺寸為寬75mm，長145mm，厚31mm，質(zhì)量340g。由于尺寸是可以單手獲得的，因此即使在測量現(xiàn)場也可以輕松使用。
●具備多種功能
具備正常膜厚控制所需的所有功能。
應用程序選擇，背景校正，數(shù)據(jù)刪除，數(shù)據(jù)存儲器，上/下限設置，統(tǒng)計計算（測量計數(shù)/平均值/標準偏差/大值/小值），顯示選擇，日期/時間，自動關閉時間，背光亮度，背光時間，單位，數(shù)據(jù)輸出，自動批次分類，測量方法，維護模式等。可以根據(jù)需要設置16種功能。
●完整選項
可選的測量架LW-990使得易于測量難以測量的彎曲表面（例如管道），甚至在測量普通平面時，也可以將重復誤差和人為誤差降至低。
另外，通過使用數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger LDL-03”和“ McWAVE series”，可以以MS Excel格式保存數(shù)據(jù)，編輯測量數(shù)據(jù)并創(chuàng)建各種管理圖。 ..
（McWAVE系列是CEC的商標，MS Excel是Microsoft的商標。）
選擇架“ LW-990”
●測量原理
當電磁吸引型（LE-373 Fe探頭）
交流電磁鐵靠近鐵（磁性金屬）時，穿過線圈的磁通量會根據(jù)接近距離而變化，因此施加在線圈兩端的電壓也會發(fā)生變化。
電磁膜厚度計從電流值讀取該電壓變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚度，該膜厚度用于測量磁性金屬上的非磁性膜。
●規(guī)格
| 測量方式 | 電磁感應式 |
|---|---|
| 測量目標 | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
| 探測 | 單點接觸恒壓型（LEP-J） |
| 測量范圍 | 0-2,500μm或99.0密耳 |
| 符合標準 | JIS K5600-1-7，JIS H0401，JIS H8401， JIS H8501，JIS H8641 / ISO 1460， ISO 2064，ISO 2178，ISO 2808， ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499， ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 應用程序 部署內(nèi)存 | 100 |
| 測量精度 | 小于50μm：±1μm，50μm或更大且小于1,000μm：±2％，1,000μm或更大：±3％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm |
| 資料儲存 | 39,000點 |
| 附加功能 | 應用程序選擇，背景校正，數(shù)據(jù)刪除，數(shù)據(jù)存儲器，上下限設置，統(tǒng)計計算（測量計數(shù)/平均值/標準偏差/大值/小值），顯示選擇，日期/時間， 自動關閉時間，背光亮度，背光時間，單位，數(shù)據(jù)輸出，自動批次分類，測量方法，維護方式 |
| 顯示方式 | 數(shù)字（LCD 128 x 64點帶背光，小顯示數(shù)字為0.1μm） |
| 外部輸出 | 個人計算機（USB或RS-232C） |
| 電源供應 | 電池1.5V（AA堿性）x 4 |
| 能量消耗 | 80mW（背光關閉時） |
| 電池壽命 | 100小時（背光關閉時連續(xù)使用） |
| 工作溫度極限 | 0至+ 40°C |
| 尺寸/質(zhì)量 | 75（W）x 145（D）x 31（H）毫米，0.34千克 |
| 配件 | 標準板（10μm，50μm，100μm，500μm，1,000μm，1,500μm，近似值，每組1個，總共6張）， 標準板盒，AA堿性電池1.5 V，探頭適配器，手提箱，鐵底座 |
| 選項 | 標準板（配件以外的厚度），測量臺“ LW-990”，數(shù)據(jù)記錄器軟件“ LDL-03”，個人計算機電纜，RS-232C-USB電纜， 數(shù)據(jù)管理軟件“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Std。”，“ McWAVE Pro” “。”“ MultiProp” |