物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5

簡要描述：

物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5
用于明場的近紅外校正物鏡

M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HR

VMU FS70

■特長

?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工

?長工作距離?計劃?阿波羅規格

產品型號：378-826-15 / 378-864-5

產品時間：2024-05-22

物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5

用于明場的近紅外校正物鏡

M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HR

VMU FS70

■特長

?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工

?長工作距離?計劃?阿波羅規格

?從可見區域（一般觀察波長范圍）到近紅外區域（波長～1800nm）進行了修正設計。

?NIR HR：高分辨率規格?分辨率提高約50%以上（標準型

上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。

注）使用波長在1100nm以上時，玻璃分散的變化和折射率等測量會產生誤差，比可見光的焦點位置稍有偏差。

■特長

?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工

?長工作距離?計劃?阿波羅規格

?符合YAG激光器的基本波、第二諧波的激光高透過率類型。從可見光區域的420nm到近紅外區域的1064nm進行了修正設計。

?在保持NIR系列20×、50×NA的狀態下，實現了25.5mm的超長動作距離，大大提高了操作性。

上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。

注）使用波長在1100nm以上時，玻璃分散的變化和折射率等測量會產生誤差，比可見光的焦點位置稍有偏差。

物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5

M Plan Apo NIR 100 × 378-826-15 0.50 12.0 2 0.6 1.1 0.24 0.05 × 0.06 335

M Plan Apo NIR HR

M Plan Apo NIR HR 50 × 378-863-5 0.65 10.0 4 0.4 0.7 0.48 0.10 × 0.13 450

M Plan Apo NIR HR 100 × 378-864-5 0.70 10.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05 × 0.06 450